Deutsches Kurzprofil
Weißlichtinterferometer (WLI) zur optischen, berührungslosen Messung von 3-D Profilenrauer und glatter Oberflächen.
- Veröffentlichung
- 30.09.2026
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Angegebene Frist
- 02.11.2026
- CPV
- 38600000
Optische Instrumente
Universität des Saarlandes - Dezernat Zentrale Beschaffung und Dienste